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中国计量院两项成果获北京市科学技术奖

发布时间:2013-04-03 作者: 来源:刘旭红 浏览:23778

      日前,北京市科学技术奖励大会隆重召开,奖励获得2012年度北京市科学技术奖的科技创新成果。其中,中国计量院《紫外辐射照度工作基准装置的能力提升与量传体系的完善》、《物体表面光散射分布国家标准量值测量方法研究及多领域的创新应用》两项成果荣获三等奖。

      由中国计量院光学所代彩红研究员等5人完成的《紫外辐射照度工作基准装置的能力提升与量传体系的完善》项目针对紫外辐射照度行业新的计量需求,新建了紫外辐射照度量值溯源和工作基准装置,测量准确度提高了约3倍。新建四套人工气候老化领域光辐射度计量标准装置,解决了97%以上材料老化行业的量值溯源需求;其中项目研究成果在紫外辐射照度亚太比对中,两项参数第一。新装置通过国际同行专家的考评,增加4项国际互认的紫外辐射度的CMCs测量能力,完成相关检定规程和校准规范的制修订,并组织了全国量值比对。优化完善了我国紫外辐射照度量传体系,确保量值的准确一致与国际接轨,满足了气候变化、太阳能光伏、医疗卫生、光辐射安全等领域对紫外辐射照度测量高精度、宽量程、特殊测量波段等计量需求。

     《物体表面光散射分布国家标准量值测量方法研究及多领域的创新应用》项目由中国计量院光学所刘子龙助理研究员等6人承担并联合华中科技大学、北京中科浩翔电子技术有限公司完成。项目针对各领域研究对物体表面光散射分布量值的测量及计量需求,建立了双向反射分布函数(BRDF)标准测量装置,实现了量值的国内溯源,研发了两种型号的BRDF测量仪器。项目成果已得到广泛应用,如通过人体器官的BRDF建模,实现医学影像数据的修正与标定,提高医学影像诊断的准确率;为钢铁、化工和热电等行业精确测量燃烧温度场,实现节能减排;航天、军事等领域急需的微型透镜、阵列、MEMS反射镜检测及在制造过程中形成的亚表面缺陷的监测。

      北京市科学技术奖由北京市人民政府设立,用于奖励北京市对科学技术创新和发展做出突出贡献的个人和组织。2012年度共有184项科技创新成果该奖项,其中一等奖27项,二等奖53项,三等奖104项。

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