美国俄亥俄州克里夫兰市近日报导??吉时利 (Keithley) 仪器公司 (NYSE: KEI) 是为不断增长的测量需求提供解决方案的领导者，宣布在4200型半导体特性分析系统中新增加了脉冲信号发生和测量功能，支持脉冲式的半导体特性分析功能。新的PIV（脉冲I-V）子系统，更便于进行高介电（High－k）材料、热敏感器件和先进存储芯片等的前沿技术研究，使其测量更加准确，产品投入市场更加快速。这是第一款商用化的集成了精确、可重复的脉冲和DC测量于一体的解决方案，而且使用非常方便。 脉冲I-V （简称PIV）子系统是吉时利公司Model 4200-SCS系统的一个新增选项。Model 4200-SCS系统适用于实验室级别的精准DC特性测量和分析，具有亚飞安级的微电流分辨率和实时绘图、数据分析和处理能力。该系统集成了目前最先进的半导体特性分析性能，包括一台带有Windows XP操作系统和大容量存储器的嵌入式PC机。 Model 4200-SCS PIV子系统有着广泛的用途。它是唯一一种适合解决高介电High-k介质的集成电路(例如界面态)和65nm及更小尺寸工艺的新器件热特性(例如SOI和FinFET器件)的问题的工具。其他的应用包括电荷泵（Charge Pumping），AC stress失效机理的测试和其他的脉冲和时钟方面的应用。 Model 4200-SCS PIV子系统对于在半导体TD（Technology Development）、PD（Product Development）和可靠性实验室，以及材料和器件研究实验室中的工程师和管理者来说是非常理想的选择。包含了样例测试方案可使学习曲线变短，从而提高生产能力，直观易用的软件使得测试和特性表征更加快速，从而提高产能。因而，任意一个需要在实验台上进行DC和脉冲测试的半导体实验室都将从Model 4200-SCS PIV子系统中受益。